Joan edukira
VuFind
Zure kontua
Irten
Bazkideak
Hizkuntza
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Bilatu
Aurreratua
A/B测试
Erreferentzia bihurtu
Bidali
Imprimir
Gogokoenen artean sartu
Permanent link
A/B测试 Fail fast learn smart
Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:
王晔
(著)
Argitaratua:
机械工业出版社
Aleari buruzko argibideak
省图图书
Aleari buruzko argibideak 省图图书
Sailkapena
Barra-kodea
Egoera
TP311.55/79
31450123
Eskuragarri
Antzeko izenburuak
完美测试
nork: 朱少民
Argitaratua: (2012)
开发者测试
nork: 王兴亚
Argitaratua: (2019)
软件测试架构实践与精准测试
nork: 李龙
Argitaratua: (2018)
软件测试之道
nork: 麦思博北京软件技术公司
Argitaratua: (2017)
软件测试基础
nork: 阿曼
Argitaratua: (2018)
Lanean...