测试反模式 Common system and software testing pitfalls

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: 费尔史密斯 (著)
Andere auteurs: 王文慧 (译)
Gepubliceerd in: 机械工业出版社

省图图书

Exemplaargegevens van 省图图书
Plaatsingsnummer Barcode Status
TP311.55/25 30274737 Beschikbaar